1. Defect and Microstructure Analysis by Diffraction
پدیدآورنده : / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, Hans J. Bunge
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه اراک (مرکزی)
موضوع : Diffraction,Diffraction-- Defects
رده :
535
.
42
S675D
2. Defect and microstructure analysis by diffraction
پدیدآورنده : Snyder, Robert L.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Defects -- Analysis ، Crystals,، Diffraction,، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
S58
1999
3. Defect and microstructure analysis by diffraction
پدیدآورنده : / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Crystals--Defects--Analysis,Diffraction.,X-ray crystallography.
رده :
QD945
.
S58
1999
4. Defect and microstructure analysis by diffraction
پدیدآورنده : Snyder, R. L. )Robert L.(
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع : ، Crystals-- Defects-- Analysis,، Diffraction,، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
S58
1999
5. Defect and microstructure analysis by diffraction
پدیدآورنده : Snyder, R. L. )Robert L.(
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Defects Analysis ، Crystals,، Diffraction,، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
S58
1999
6. Defect and microstructure analysis by diffraction
پدیدآورنده : / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala and Hans J. Nunge
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)
موضوع : Crystals - Defects - Analysis,Diffraction,X-ray crystallography
رده :
QD945
.
S58
1999
